吳正信

Wu, Jenq-Shinn・電機學院・電子研究所

碩士平均畢業時長
2.10 年
中位數 2.10 年・2 人
博士平均畢業時長
7.08 年
中位數 7.08 年・1 人
收錄論文
4 篇
106–112 學年度
全校中位數(供對照)
碩士 2.10・博士 6.11 年

畢業時長趨勢

每學年度畢業人數

只計入有論文收錄的畢業生;中途休學或更換指導教授的學生不會出現在這裡。

研究關鍵字

分子束磊晶鋁薄膜Molecular Beam Epitaxy變質緩衝層銻化物碲化鎵摻雜Metamorphic Buffer LayerAntimonidesAluminum Thin FilmGaTe Doping閘極調變效應氮化鈦薄膜gate modulationaluminum filmstitanium nitride films鋁奈米線超導臨界溫度電晶體aluminum nanowiressuperconductorcritical temperaturefield-effect transistors鋁奈米薄膜分子數磊晶Aluminum Nanofilm

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指導論文

學年度論文學制入學提交日期畢業時長
112
Growth of Antimonide on GaAs Substrate Using Ultrathin Metamorphic Buffer Layers
電子研究所・共同指導:林聖迪
分子束磊晶、變質緩衝層、銻化物、鋁薄膜、碲化鎵摻雜、Molecular Beam Epitaxy、Metamorphic Buffer Layer、Antimonides、Aluminum Thin Film、GaTe Doping
博士1052023-09-017.08 年
111
Gate modulation effect in nano-scale aluminum and titanium nitride thin films
電子研究所・共同指導:林聖迪
分子束磊晶、閘極調變效應、鋁薄膜、氮化鈦薄膜、molecular beam epitaxy、gate modulation、aluminum films、titanium nitride films
碩士1092022-09-222.14 年
108
Superconducting characteristics and electrical device measurements of aluminum-channel nanowires
電子研究所・共同指導:林聖迪
鋁奈米線、超導、臨界溫度、電晶體、aluminum nanowires、superconductor、critical temperature、field-effect transistors
碩士106—無法計算
106
Epitaxial Growth and Characteristics Analysis of Aluminum Nanofilms
電子研究所・共同指導:林聖迪
鋁奈米薄膜、分子數磊晶、Aluminum Nanofilm
碩士1042017-08-222.06 年