洪志真

Horng , Jyh-Jen Shiau・理學院・統計學研究所

碩士平均畢業時長

2.13 年

中位數 1.99 年・10 人

在職專班平均畢業時長

2.98 年

中位數 2.98 年・1 人

博士平均畢業時長

7.66 年

中位數 7.53 年・5 人

收錄論文

16 篇

100–106 學年度

全校中位數（供對照）

碩士 2.10・在職專班 2.08・博士 6.11 年

畢業時長趨勢

每學年度畢業人數

只計入有論文收錄的畢業生；中途休學或更換指導教授的學生不會出現在這裡。

研究關鍵字

平均連串長度無分配假設average run length函數資料分析functional data analysisprofile管制圖control chart隨機效應two-dimensional profile monitoringmultilinear principal component analysisdistribution-free剩餘壽命剖面資料Profile monitoringPrincipal component analysis主成分分析二維剖面資料之監控多線性主成份分析無母數迴歸高斯過程random effectsnonparametric regressionGaussian process萃思蝕刻製程介電層插栓高分子殘留矛盾矩陣發明原則實驗設計TRIZetching processvia plugpolymer residuecontradictory matrix40-principleexperimental design經驗貝氏方法函數主成分分析residual useful lifeempirical Bayesfunctional principal component analysis典型相關函數型典型相關多變量函數型典型相關交叉驗證Canonical CorrelationFunctional Canonical CorrelationMultivariate Functional Canonical Correlation

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指導論文

學年度	論文	學制	入學	提交日期	畢業時長
106	二維隨機效應剖面資料之監控方法 Monitoring Schemes for Two-dimensional Profiles with Random Effects 統計學研究所二維剖面資料之監控、多線性主成份分析、隨機效應、無母數迴歸、平均連串長度、高斯過程、無分配假設、two-dimensional profile monitoring、multilinear principal component analysis、random effects、nonparametric regression、average run length、Gaussian process、distribution-free	博士	99	2017-09-28	7.16 年
105	應用TRIZ方法與實驗設計進行半導體製程改善 Application of TRIZ Method and Experimental Design for Semiconductor Process Improvement 理學院應用科技學程萃思、蝕刻製程、介電層插栓、高分子殘留、矛盾矩陣、發明原則、實驗設計、TRIZ、etching process、via plug、polymer residue、contradictory matrix、40-principle、experimental design	碩士在職專班	103	2017-07-26	2.98 年
105	雙配方製程之無母數衰變模型與剩餘壽命預測 A Nonparametric Degradation Model and Residual Lifetime Prediction for Two-Recipe Processes 統計學研究所剩餘壽命、經驗貝氏方法、函數資料分析、函數主成分分析、residual useful life、empirical Bayes、functional data analysis、functional principal component analysis	碩士	103	2017-02-02	2.51 年
104	多變量函數型典型相關分析 Multivariate Functional Canonical Correlation Analysis 統計學研究所典型相關、函數型典型相關、多變量函數型典型相關、交叉驗證、函數資料分析、Canonical Correlation、Functional Canonical Correlation、Multivariate Functional Canonical Correlation、Cross-validation、Functional data analysis	碩士	102	2016-07-03	2.92 年
103	適應估計誤差之 Hotelling T2 管制圖 An Adaptive Hotelling T2 Control Chart with Estimated Process Parameters 統計學研究所平均連串長度、估計效應、平均連串長度的變異數、Hotelling T2 管制圖、多變量製程、調整管制界限、Average run length、Estimation effect、Standard deviation of ARL (SDARL)、Hotelling T2 control chart、Multivariate process、Adjusted control limit	碩士	102	2015-06-23	1.89 年
103	函數資料的異常製程偵測與診斷及變異分析之研究 A Study on Functional FDD and Functional ANOVA 統計學研究所剖面資料、函數主成份分析、函數部分最小平方法、函數變異分析、異常製程偵測與診斷、空間符號-順序統計量、profile、functional principal components analysis、functional partial least squares、functional analysis of variance、fault detection and diagnosis、spatial signed-rank	博士	96	2015-02-11	7.53 年
102	經由即時監控衰變路徑資料制定最佳維修時程之研究 A Study on Maintenance Time Determination via Real-time Monitoring of the Degradation Path 統計學研究所衰變路徑、剩餘壽命、維修、即時、degradation path、residual life、maintenance、real-time	碩士	101	2014-07-30	1.99 年
102	比較空間面疾病監控方法的新評估機制 New Evaluation Criteria for Comparing Spatial Disease Surveillance Methods 統計學研究所空間面的疾病監控、品質管制、spatial disease surveillance、SPC	碩士	101	2014-07-30	1.99 年
101	利用製程能力指標選擇群體供應商之貝氏方法 Bayesian approach for group supplier selection based on the process capability indices 統計學研究所・共同指導：洪慧念供應鏈管理、群體供應商選擇、貝氏方法、事先資訊、正確選擇的後驗概率、Supply chain management、Group supplier selection、Bayesian approach、Prior information、Posterior probability of correct selection	博士	91	2013-07-26	10.98 年
101	偵測二維度資料之線性趨勢管制圖 Control Charts for Detecting the Linear Trend in Two-dimensional Data 統計學研究所線性趨勢、線性模型、迴歸係數、斜率係數、連串長度、管制圖、linear trend、linear model、regression coefficient、slope coefficient、run length、control chart	碩士	100	2013-07-16	1.96 年
101	無母數衰變模型在維修策略上之應用 Predicative Maintenance Management Based on Nonparametric Degradation Modeling 統計學研究所衰變模型、degradation	碩士	100	2013-07-16	1.96 年
101	第一階段剖面資料之無分配假設監控方法 Distribution-Free Profile Monitoring Schemes for Phase I Applications 統計學研究所剖面監控、無分配假設、主成份分析、Profile monitoring、Distribution free、Principal component analysis	碩士	100	2013-07-16	1.96 年
101	非線性隨機效應剖面資料之無母數監控方法 Nonparametric Monitoring Schemes for Nonlinear Profiles with Random Effects 統計學研究所管制圖、無分配假設、無母數、剖面資料、第一階段、第二階段、隨機效應、主成分分析、control chart、distribution-free、nonparametric、profile、Phase I、Phase II、random effect、PCA	博士	97	2012-09-27	4.16 年
100	第二階段二維剖面監控之研究 A Study on Phase II Two-dimensional Profile Monitoring 統計學研究所二維剖面監控、剖面與剖面之間的變異、平均連串長度、主成分分析、多線性主成分分析、Two-dimensional Profile Monitoring、Profile-to-Profile Variation、Average Run Length、Principal Component Analysis、Multilinear Principal Component Analysis	碩士	99	2012-09-03	2.09 年
100	剖面資料分類方法應用在半導體製程上之研究 A study on the Classification of Profile Data with Applications in Semiconductor Manufacturing 統計學研究所剖面、診斷、分類、函數資料分析、隨機過程、KNN、LDA、QDA、Profile、Diagnosis、Classification、Functional Data Analysis、Stochastic Process	碩士	99	2012-08-21	2.06 年
100	包含區間, 多變量管制圖及構面性資料統計品質管制 Coverage Interval, Multivariate Control Chart and Profile Monitoring 統計學研究所・共同指導：陳鄰安包含區間、稱型分位數、分位數、管制圖、構面型資料統計品質管制、coverage interval、symmetric quantile、empirical quantile、control chart、profile monitoring	博士	92	2012-01-16	8.46 年