吳品鈞
Wu, Pin-Jiun・工學院・加速器光源科技與應用碩士學位學程
碩士平均畢業時長
3.19 年
中位數 2.62 年・4 人
博士平均畢業時長
5.18 年
中位數 5.18 年・1 人
收錄論文
6 篇
102–113 學年度
全校中位數(供對照)
碩士 2.10・博士 6.11 年
畢業時長趨勢
每學年度畢業人數
只計入有論文收錄的畢業生;中途休學或更換指導教授的學生不會出現在這裡。
研究關鍵字
太陽能電池光電子能譜X光繞射solar cellX-ray diffractionX光吸收光譜二氧化鉿X-ray Absorption SpectroscopyHfO2XPS碳化矽SiO2/SiC介面MOS電容介面缺陷密度離子注入後退火時依介電層崩潰Silicon carbide (SiC)SiO₂/SiC interfaceMOS capacitorLOCal Oxidation of Silicon Carbon (LOCOSiC)interface state densitypost-ion-implantation annealingtime-dependent dielectric breakdown (TDDB)gate oxide test structureand size effect.同步輻射分子束磊晶synchrotron radiationX-ray photoelectron spectroscopymolecular beam epitaxyX光光電子能譜第一原理之模擬計算X-ray Photoemission SpectroscopyFirst Principle Calculation鍺熱製程二氧化鋯germaniumthermal processesGeO volatilizationZrO2磷酸鋰鐵銅銦鎵硒鋰電池M1位置縱深分佈掃描式光電子能譜LiFePO4CIGSLi-ion battery
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指導論文
| 學年度 | 論文 | 學制 | 入學 | 提交日期 | 畢業時長 |
|---|---|---|---|---|---|
| 113 | A Study on the Post-Ion-Implantation Annealing and Local Oxidation Technology of Size Effect on the Time-Dependent-Dielectric-Breakdown of Gate Oxide on 4H-SiC 加速器光源科技與應用碩士學位學程・共同指導:崔秉鉞 碳化矽、SiO2/SiC介面、MOS電容、介面缺陷密度、離子注入後退火、時依介電層崩潰、Silicon carbide (SiC)、SiO₂/SiC interface、MOS capacitor、LOCal Oxidation of Silicon Carbon (LOCOSiC)、interface state density、post-ion-implantation annealing、time-dependent dielectric breakdown (TDDB)、gate oxide test structure、and size effect. | 碩士 | 108 | 2025-02-11 | 5.53 年 |
| 110 | Characterization of Photovoltaic Semiconductor Devices by Synchrotron Radiation Photoelectron Spectroscopy and the Growth Mechanism of InSe 電子物理系所・共同指導:周武清 同步輻射、光電子能譜、太陽能電池、X光繞射、分子束磊晶、synchrotron radiation、X-ray photoelectron spectroscopy、solar cell、X-ray diffraction、molecular beam epitaxy | 博士 | 103 | — | 無法計算 |
| 106 | Effects of Deposition Temperature of Substrate and Oxygen Pulse Time on Crystalline and Electronic Properties of HfO2 High-k Dielectrics Studied by Synchrotron Radiation Techniques 電子物理系所・共同指導:周武清 X光繞射、X光光電子能譜、X光吸收光譜、第一原理之模擬計算、二氧化鉿、X-ray Diffraction、X-ray Photoemission Spectroscopy、X-ray Absorption Spectroscopy、First Principle Calculation、HfO2 | 碩士 | 105 | 2018-07-29 | 1.99 年 |
| 106 | A Study on the Effect of Thermal Processes on Gate Dielectric Quality in Ge MIS device 電子研究所・共同指導:崔秉鉞 鍺、熱製程、二氧化鉿、二氧化鋯、germanium、thermal processes、XPS、GeO volatilization、HfO2、ZrO2 | 碩士 | 103 | 2017-10-17 | 3.21 年 |
| 105 | Crystalline Structure and Electronic Properties of Thin-Film Solar Cell and Li-ion Battery Materials Studied by Synchrotron-Based Techniques 電子物理系所・共同指導:周武清 磷酸鋰鐵、銅銦鎵硒、鋰電池、太陽能電池、M1位置、縱深分佈、X光吸收光譜、掃描式光電子能譜、LiFePO4、CIGS、Li-ion battery、solarcell、M1 site、depth profile、X-ray absorption spectroscopy、SPEM | 博士 | 100 | 2016-10-06 | 5.18 年 |
| 102 | Thermal effect on elemental diffusion of ZnO/CdS/CIGSSe solar cell at/near the heterojunction interface 工學院加速器光源科技與應用學位學程・共同指導:謝文峰 太陽能電池、銅銦鎵硒硫、光電子能譜、熱處理、界面、擴散、Solar cell、CIGSSe、XPS、Thermal treated、Interface、diffusion | 碩士 | 101 | 2014-08-12 | 2.03 年 |