莊紹勳

Chung, Steve S.・電機學院・電子研究所

碩士平均畢業時長
2.49 年
中位數 2.21 年・41 人
博士平均畢業時長
1.89 年
中位數 1.89 年・1 人
收錄論文
50 篇
101–114 學年度
全校中位數(供對照)
碩士 2.10・博士 6.11 年

畢業時長趨勢

每學年度畢業人數

只計入有論文收錄的畢業生;中途休學或更換指導教授的學生不會出現在這裡。

研究關鍵字

電阻式記憶體可靠度FinFETReliability鰭式電晶體RRAM物理不可複製函數異質整合隨機電報雜訊RTNMultilevelResistive Random-Access Memory (RRAM)低功耗CMOSTrigate垂直式電阻式記憶體Vertical Resistance Random Access Memory (VRRAM)Heterogeneous Integration記憶體內運算神經網路人工智慧Neural NetworkEmbedded Memory鰭式場效電晶體物聯網Internet of Things (IoT)介電質熔絲崩潰Anti-fuse breakdownRG-FinFET非揮發性記憶體Dielectric Breakdown二氧化鉿low power阻變式閘極電晶體多階操作Resistive-Gate Random Access Memory (RG-RAM)Heterogeneously integrationMultilevel Operation阻變式閘極鰭式電晶體多組態虛擬傳輸模型Virtual Source Model內嵌式記憶體終端應用Artificial IntelligenceEdge Application反熔絲崩潰Dielectric fuse breakdownPhysical Unclonable Function隨機缺陷擾動

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指導論文

學年度論文學制入學提交日期畢業時長
114
Design and Chip Implementation of a Low Operating Voltage Four-Layer Vertical RRAM Array
電子研究所・共同指導:郭治群
垂直式電阻式記憶體、阻變式閘極電晶體、異質整合、多階操作、可靠度、Vertical Resistance Random Access Memory (VRRAM)、Resistive-Gate Random Access Memory (RG-RAM)、Heterogeneously integration、Multilevel Operation、Reliability
碩士1122026-01-292.50 年
114
The Design and Implementation of a 16nm FinFET-based Vertical Resistive-Gate RAM
電子研究所・共同指導:郭治群
阻變式閘極鰭式電晶體、三維垂直結構的電阻式隨機存取記憶體、異質整合、多組態、變異度、可靠度、虛擬傳輸模型、RG-RAM、Vertical Structure of Resistive Random Access Memory (VRRAM)、Heterogeneous Integration、Multilevel、Variability、Reliability、Virtual Source Model
碩士1112025-09-103.11 年
113
The Implementation of a 28nm Resistive-Gate RAM-Based Compute-In-Memory Macro
電子研究所・共同指導:郭治群
電阻式記憶體、電阻式閘極電晶體、記憶體內運算、神經網路、人工智慧、邊緣運算、Resistive Random-Access Memory (RRAM)、Resistive-Gate RAM、Compute-In-Memory (CIM)、Neural Network、Artificial Intelligence (AI)、Edge Computing
碩士1112025-02-122.54 年
113
Implementation of 3D Vertical RRAM with a Unique Resistive-Gate Architecture
電子研究所・共同指導:郭治群
垂直式電阻式記憶體、阻變式閘極電晶體、異質整合、多階操作、可靠度、Vertical Resistance Random Access Memory (VRRAM)、Resistive-Gate Random Access Memory (RG-RAM)、Heterogeneously integration、Multilevel Operation、Reliability
碩士1112025-02-122.54 年
112
The Implementation of a Ferroelectric Tunneling Junction Memory Array
電子研究所・共同指導:李佩雯
鐵電穿隧接面記憶體、內嵌式記憶體、異質整合、多組態操作、可靠度、Ferroelectric Tunneling Junction (FTJ)、Embedded Memory、Heterogeneous Integration、Multilevel、Reliability
碩士1102024-07-092.94 年
112
The Integration of a Vertical Resistance Random Access Memory Array with CMOS Platform
電子研究所・共同指導:郭治群
電阻式記憶體、垂直式電阻式記憶體、側壁式、對稱操作、多阻態、可靠度、Resistive Random-Access Memory (RRAM)、Vertical Resistance Random Access Memory (VRRAM)、Sidewall Design、Symmetrical Operation、Multilevel、Reliability
碩士1102024-02-012.50 年
112
The Implementation of a 16 nm FinFET-Based Compute-In-Memory Macro
電子研究所・共同指導:郭治群
記憶體內運算、動態隨機存取記憶體、鰭式電晶體、神經網路、人工智慧、終端應用、Compute-In-Memory、Embedded Dynamic Random-Access Memory、FinFET、Neural Network、Artificial Intelligence、Edge Application
碩士1102024-01-292.49 年
111
A Cryptographic Platform Implemented by OTP-based TCAM in 16 nm FinFET Technology
電子研究所・共同指導:郭治群
鰭式場效電晶體、一次性編程、三態可定址記憶體、加密系統、物聯網、Cryptographic Platform、FinFET、Internet of Things (IoT)、One Time Programming (OTP)、Ternary Content Addressable Memory (TCAM)
碩士108—無法計算
111
Identity-authentication of AIoT Devices through OTP-based Physical Unclonable Function Implemented on 40nm CMOS Platform
電子研究所・共同指導:郭治群
人工智慧物聯網、守門員平台、物理不可複製函數、一次性編程記憶體、鰭式電晶體、反熔絲崩潰、介電質熔絲崩潰、Artificial Intelligence of Things (AIoT)、Goalkeeper platform、Physically-unclonable Function (PUF)、One-time Programmable (OTP) memory、Anti-fuse breakdown、Dielectric fuse breakdown
碩士108—無法計算
111
An Energy Efficient Inference Processor of Neural Network Based on Resistive-gate FinFET
人工智慧技術與應用碩士學位學程・共同指導:侯拓宏
近記憶體運算、記憶體內運算、電阻式記憶體、電阻式閘極鰭式電晶體、神經網路、人工智慧、終端應用、Near Memory Computing、Computing in Memory (CIM)、Resistive Random-Access Memory (RRAM)、RG-FinFET、Neural Network、Artificial Intelligence、Edge Application
碩士109—無法計算
110
The Chip Implementation of Universal-Security-Function (USF) on a 40 nm CMOS Technology
電子研究所・共同指導:郭治群
通用安全函數、物理不可複製函數、真隨機亂數產生器、單一電晶體單元、記憶體陣列、Universal Security Function、Physical Unclonable Function、True Random Number Generator、1T unit-cell、memory array
碩士1082021-11-292.33 年
110
The Implementation of Physical Unclonable Function (PUF) Based on FinFET Variation
電子研究所・共同指導:郭治群
鰭式場效電晶體、電性變異、隨機缺陷擾動、虛擬傳輸模型、物理不可複製函數、物聯網、FinFET、Process Induced Variations、Stress Induced Variations、Virtual Source Model、Physical Unclonable Function (PUF)、Internet of Things (IoT)
碩士108—無法計算
110
The Implementation of Physical Unclonable Function (PUF) on a Resistive-Gate FinFET Memory Array
電子研究所・共同指導:郭治群
阻變式閘極鰭式電晶體、電阻式記憶體、異質整合、多組態、可靠度、物理不可複製函數、物聯網、RG-FinFET、Resistive Random-Access Memory (RRAM)、Heterogeneous Integration、Multilevel、Reliability、Physical Unclonable Function (PUF)、Internet of Things (IoT)
碩士108—無法計算
110
Improved HfZrO2 Fe-FinFET Memory to Realizing Highly-Reliable Multi-bit Operation
電子研究所・共同指導:郭治群
內嵌式鐵電記憶體、HZO鐵電鰭式電晶體、界面層、提升極化量、可靠度、embedded ferroelectric memory、HZO Fe-FinFET、interfacial layer、polarization improvement、reliability
碩士108—無法計算
110
The Design and Fabrication of One Time Programmable Memory with Junction Fuse Mechanism Implemented on 16nm FinFET Process
電子研究所・共同指導:郭治群
單次/多次編成記憶體、鰭式電晶體、接面熔斷崩潰、內嵌式記憶體、低編程電壓、one-time/multiple-time-programmable(OTP/MTP) memory、FinFET、junction fuse breakdown、embedded memory、low programming voltage
碩士108—無法計算
109
The Multi-Level Operation of One-Transistor Resistive Random-Access Memory with Gate-Resistance Switching
電子研究所
電阻式記憶體、多階儲存單元操作、1T1R、RRAM、Multi-Level
碩士1072020-09-032.09 年
109
Gate Resistance Switching FinFET Array for True-Random-Number Generator Application
電子研究所
阻變式閘極鰭式場效電晶體、電阻式記憶體、非揮發性記憶體、亂數產生器、RG-FinFET、RRAM、NVM、TRNG
碩士1072020-09-012.09 年
108
A New Architecture of Physical-unclonable-function Chip and Its Implementations
電子研究所
反熔絲崩潰、物理不可複製函數、介電質熔絲崩潰、單次可編程記憶體、一次性密碼、機器學習、Anti-fuse Breakdown、Physically-unclonable Function、Dielectric Breakdown、One-time Programmable Memory、One-time Password、Machine Learning
碩士1062020-06-042.84 年
108
The Implementation of Neuromorphic Computing Network By Multiple Levels Resistance Random Access Memory
電子研究所
類神經網路、電阻式記憶體、深度學習、neuromorphic computing、RRAM、deep learning
碩士1042020-01-134.45 年
108
Resistance-Gate Switching Nonvolatile Memory for Neuromorphic Network Application
電子研究所
電阻式記憶體、類神經網路、非揮發性記憶體、RRAM、Neuromorphic Network、NVM
碩士1062020-01-062.43 年
108
Improved High Performance FinFET and Its Prediction Down to 3nm Technology Node
電子研究所
鰭式電晶體、寄生電容、半導體電腦輔助設計、技術節點預測、FinFET、parasitic capacitance、TCAD、prediction for technology nodes
碩士1062019-10-252.23 年
108
The Design and Fabrication of One Time Programmable Memory with Gate Floating Anti-Fuse Breakdown
電子研究所
閘極浮接、介電質反熔絲崩潰、單次編程記憶體、Gate Floating、Anti-Fuse Breakdown、One Time Programmable Memory
碩士1062019-10-162.21 年
108
The Design of Tunneling FET with Fin Structure for Low Voltage and Low Power Applications
電子研究所
低電壓、低功耗、鰭式穿隧電晶體、Low Voltage、Low Power Applications、FinTFET
碩士105—無法計算
107
The Design and Fabrication of FinFET with Both Air Trench Isolation and Air Spacer
電子研究所
鰭式電晶體、寄生電阻、空氣側壁、FinFET、air spacer、parasitic resistance
碩士1052019-09-013.08 年
107
The Construction of Physical Unclonable Function (PUF) and True-Random-Number Generator (TRNG) Based on FinFET Variation
電子研究所
物理不可複製函數、真亂數產生器、鰭式場效電晶體、變異性、隨機電報雜訊、Physical Unclonable Function、rue-Random-Number Generatorrue-Random-Number Generator、FinFET、Variation、random telegraph noise
碩士1052019-07-232.97 年
107
Design of Low Voltage Vertical Channel-Tunnel FET (VC-TFET) Using Ge/SiGe Materials
電機資訊國際學程
新穎穿隧式場效電晶體、穿隧式場效電晶體、鍺/矽鍺材料、直立式通道、Novel Tunnel FET、TFET、Ge/SiGe、vertical Channel
碩士1052019-05-092.77 年
107
The Design and Optimization of the One Transistor Resistance Switching Nonvolatile Memory
電子研究所
非揮發性記憶體、電阻式記憶體、鰭式電晶體、1T1R記憶體陣列、Non-Volatile Memory、Resistance Random Access Memory、Fin Field-Effect Transistor、1T1R Memory Array
碩士1042018-11-193.30 年
107
The Design and Fabrication of Next Generation One Time Programmable Memory Based on the Dielectric Fuse Breakdown
電子研究所
介電質熔絲崩潰、單次編程記憶體、嵌入式記憶體、dielectric fuse breakdown、one-time-programmable memory、embedded memory
碩士1052018-09-052.09 年
106
A New Architecture of FinFET for High Performance and the Analysis on Its RF Characteristics
電子研究所
鰭式電晶體、射頻、電阻、FinFET、RF、resistance
碩士1042018-01-102.44 年
106
A New Temperature Measurement Technique of the Self-Heating Effect in 14nm FinFET and Its Impact on the Transport Mechanism
電子研究所
自熱效應、可靠度、傳輸理論、電晶體溫度、self-heating effect、transport、temperature
碩士1042017-09-042.09 年
106
A New FinFET-based Field Programmable Synapse Array (FPSA) for Artificial Neural Network Applications
電子研究所
鰭式電晶體、人工神經網路、機器學習、FinFET、Artificial Neural Network、Machine-learing
碩士1042017-09-042.09 年
105
A Novel ReWritable One-Time-Programming Memory Realized by Dielectric-fuse of RRAM for Embedded Applications
電子研究所
一次編程唯讀記憶體、電阻式記憶體、介電層熔斷崩潰、OTP、RRAM、Dielectric breakdown
碩士1032016-09-042.09 年
104
Various Aspects of the Process and Stress Induced Variabilities in Tri-gate Transistors
電子工程學系 電子研究所
三維金氧半互補式電晶體、製程所致之電特性變異、長時間操作所致之電特性變異、雜質隨機分佈擾動、隨機缺陷擾動、隨機電報雜訊、表面粗糙擾動、邊線不平整擾動、功函數擾動、驅動電流擾動、電路和系統擾動、3D CMOS Devices、Process-induced Variabilities、Long-term-stress-induced Variabilities、Random-dopant-fluctuation(RDF)、Random-trap-fluctuation(RTF)、Random-telegraph-noise(RTN)、Surface- roughness-variation (SRV)、Line-edge-roughness(LER)、Work-function-fluctuation、Drain-current-variation、Circuit-and-system-level variation
博士1032016-06-231.89 年
104
New Understandings on the Correlation Between Work-function Fluctuation and Vth Variation in HKMG CMOS Devices
電子工程學系 電子研究所・共同指導:汪大暉
高介電氧化層、介面偶極、功函數變異、氧化層缺陷、偏壓溫度不穩定性、互補式電晶體、high-k dielectric、interfacial dipole、work function variation、oxide trap、bias temperature instability、CMOS
碩士1022015-09-092.11 年
104
The Design and Optimization of a Low Power Bi-layer Resistance RAM
電子工程學系 電子研究所・共同指導:汪大暉
電阻式記憶體、低功耗、雙介電層、三氧化二鋁、二氧化鉿、RRAM、low power、bi-layer、Al2O3、HO2
碩士1022015-09-092.11 年
104
A One-Time-Programmable Array Based on a New Dielectric Fuse Breakdown Mechanism
電子工程學系 電子研究所
單次寫入唯讀記憶體、互補式電晶體、熔斷、介電層崩潰、隨機電報雜訊、可靠度、OTP、CMOS、fuse、dielectric breakdown、RTN、Reliability
碩士1022015-09-082.10 年
103
Design of the Complementary Face-Tunneling FET for Ultra-low Power Applications
電子工程學系 電子研究所
穿隧電晶體、面穿隧、閘極-源極 電容、反向器、靜態隨機儲存記憶體、低功耗、TFET、Face Tunneling、Gate to Drain Capacitance、inverter、SRAM、Low Power
碩士1022015-08-122.03 年
103
The Impact of the Shallow Trench Isolation on the Reliability of Trigate MOSFET
電子工程學系 電子研究所
淺溝渠隔離氧化層、三閘極電晶體、可靠度、負偏壓溫度不穩定度、shallow trench isolation、Trigate、reliability、NBTI
碩士982015-07-305.99 年
103
A New Methodology on the Investigation of Dielectric Breakdown in High-K Metal-Gate CMOS Devices
電子工程學系 電子研究所
高介電材料、二氧化鉿、氧化層崩潰、隨機電報機雜訊、high K metal gate、CMOS、TDDB、RTN
碩士1012014-09-032.09 年
103
A Circuit Level Variability Model of Basic Logic Circuits in Trigate CMOS Devices
電子工程學系 電子研究所
變異性、三維電晶體、variation、trigate、transport theory
碩士1012014-09-032.09 年
103
The Design and Fabrication of Low Power Bi-layer RRAM and the Study of Its Conduction Mechanism
電子工程學系 電子研究所
電阻式記憶體、低功耗、氮氧化鉿、RRAM、low power、HfON
碩士1012014-09-032.09 年
102
Experimental Determination of the Ballistic Transport Characteristics of Nanoscale Trigate MOSFETs
電子工程學系 電子研究所
三維電晶體、鰭式電晶體、三柵極電晶體、彈道傳輸、實驗方法、Trigate、finFET、ballsitic transport、experimental
碩士1002013-09-022.09 年
102
The Impact of the Gate Current Variation on the Trigate MOSFETs
電子工程學系 電子研究所
閘極漏電的變異、金氧半電晶體、gate current variation、MOSFET
碩士1002013-08-302.08 年
102
The Investigation of Endurance and Data Retention for U-Shaped MTP SONOS Flash Memory
電子工程學系 電子研究所
快閃式記憶體、耐久性、資料保存、Flash Memory、SONOS、Endurance、Retention
碩士1002013-08-302.08 年
102
The Study of Device Characteristics and the Random Telegraph Noise Analysis in HfO2-based Resistive Random Access Memory
電子工程學系 電子研究所
電阻式記憶體、隨機電報雜訊、操作、氧離子、RRAM、RTN、Operation、Oxygen atom
碩士1002013-08-302.08 年
102
The Investigation of Oxide Traps in Advanced HfO2 Gate Dielectric nMOSFETs
電子工程學系 電子研究所
二氧化鉿、高介電層、氧化層缺陷、Oxide Traps、HfO2、nMOSFETs
碩士1002013-08-302.08 年
101
The Multi-trap Analysis of Trigate MOSFETs Using the Random Telegraph Noise Measurement
電子工程學系 電子研究所
隨機電報訊號、三閘極電晶體、靜態隨機記憶體、互補式金氧半電晶體、RTN、TRIGATE、SRAM、CMOS
碩士992012-11-232.31 年
101
Investigation of the Mechanism and Reliability of a U-Shaped MTP SONOS Flash Memory Cell by a CMOS Logic Process
電子工程學系 電子研究所
記憶體、SONOS
碩士992012-11-232.31 年
101
The Random Telegraph Noise (RTN) Analysis of Multi-Level Operation Methods in HfO2-based ResistiveRandom Access Memory
電子工程學系 電子研究所
隨機電報雜訊、電阻式記憶體、多位元、RTN、RRAM、Multi-Level
碩士992012-09-062.10 年
101
The Random Trap Induced Fluctuations of Bulk Tri-gate Devices by a New Trap Profiling Technique
電子工程學系 電子研究所
三面閘極金氧半電晶體、氧化層隨機陷阱、電性擾動效應、Tri-gate MOSFET、Random Trap Fluctuation
碩士992012-09-042.09 年