莊紹勳
Chung, Steve S.・電機學院・電子研究所
碩士平均畢業時長
2.49 年
中位數 2.21 年・41 人
博士平均畢業時長
1.89 年
中位數 1.89 年・1 人
收錄論文
50 篇
101–114 學年度
全校中位數(供對照)
碩士 2.10・博士 6.11 年
畢業時長趨勢
每學年度畢業人數
只計入有論文收錄的畢業生;中途休學或更換指導教授的學生不會出現在這裡。
研究關鍵字
電阻式記憶體可靠度FinFETReliability鰭式電晶體RRAM物理不可複製函數異質整合隨機電報雜訊RTNMultilevelResistive Random-Access Memory (RRAM)低功耗CMOSTrigate垂直式電阻式記憶體Vertical Resistance Random Access Memory (VRRAM)Heterogeneous Integration記憶體內運算神經網路人工智慧Neural NetworkEmbedded Memory鰭式場效電晶體物聯網Internet of Things (IoT)介電質熔絲崩潰Anti-fuse breakdownRG-FinFET非揮發性記憶體Dielectric Breakdown二氧化鉿low power阻變式閘極電晶體多階操作Resistive-Gate Random Access Memory (RG-RAM)Heterogeneously integrationMultilevel Operation阻變式閘極鰭式電晶體多組態虛擬傳輸模型Virtual Source Model內嵌式記憶體終端應用Artificial IntelligenceEdge Application反熔絲崩潰Dielectric fuse breakdownPhysical Unclonable Function隨機缺陷擾動
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指導論文
| 學年度 | 論文 | 學制 | 入學 | 提交日期 | 畢業時長 |
|---|---|---|---|---|---|
| 114 | Design and Chip Implementation of a Low Operating Voltage Four-Layer Vertical RRAM Array 電子研究所・共同指導:郭治群 垂直式電阻式記憶體、阻變式閘極電晶體、異質整合、多階操作、可靠度、Vertical Resistance Random Access Memory (VRRAM)、Resistive-Gate Random Access Memory (RG-RAM)、Heterogeneously integration、Multilevel Operation、Reliability | 碩士 | 112 | 2026-01-29 | 2.50 年 |
| 114 | The Design and Implementation of a 16nm FinFET-based Vertical Resistive-Gate RAM 電子研究所・共同指導:郭治群 阻變式閘極鰭式電晶體、三維垂直結構的電阻式隨機存取記憶體、異質整合、多組態、變異度、可靠度、虛擬傳輸模型、RG-RAM、Vertical Structure of Resistive Random Access Memory (VRRAM)、Heterogeneous Integration、Multilevel、Variability、Reliability、Virtual Source Model | 碩士 | 111 | 2025-09-10 | 3.11 年 |
| 113 | The Implementation of a 28nm Resistive-Gate RAM-Based Compute-In-Memory Macro 電子研究所・共同指導:郭治群 電阻式記憶體、電阻式閘極電晶體、記憶體內運算、神經網路、人工智慧、邊緣運算、Resistive Random-Access Memory (RRAM)、Resistive-Gate RAM、Compute-In-Memory (CIM)、Neural Network、Artificial Intelligence (AI)、Edge Computing | 碩士 | 111 | 2025-02-12 | 2.54 年 |
| 113 | Implementation of 3D Vertical RRAM with a Unique Resistive-Gate Architecture 電子研究所・共同指導:郭治群 垂直式電阻式記憶體、阻變式閘極電晶體、異質整合、多階操作、可靠度、Vertical Resistance Random Access Memory (VRRAM)、Resistive-Gate Random Access Memory (RG-RAM)、Heterogeneously integration、Multilevel Operation、Reliability | 碩士 | 111 | 2025-02-12 | 2.54 年 |
| 112 | The Implementation of a Ferroelectric Tunneling Junction Memory Array 電子研究所・共同指導:李佩雯 鐵電穿隧接面記憶體、內嵌式記憶體、異質整合、多組態操作、可靠度、Ferroelectric Tunneling Junction (FTJ)、Embedded Memory、Heterogeneous Integration、Multilevel、Reliability | 碩士 | 110 | 2024-07-09 | 2.94 年 |
| 112 | The Integration of a Vertical Resistance Random Access Memory Array with CMOS Platform 電子研究所・共同指導:郭治群 電阻式記憶體、垂直式電阻式記憶體、側壁式、對稱操作、多阻態、可靠度、Resistive Random-Access Memory (RRAM)、Vertical Resistance Random Access Memory (VRRAM)、Sidewall Design、Symmetrical Operation、Multilevel、Reliability | 碩士 | 110 | 2024-02-01 | 2.50 年 |
| 112 | The Implementation of a 16 nm FinFET-Based Compute-In-Memory Macro 電子研究所・共同指導:郭治群 記憶體內運算、動態隨機存取記憶體、鰭式電晶體、神經網路、人工智慧、終端應用、Compute-In-Memory、Embedded Dynamic Random-Access Memory、FinFET、Neural Network、Artificial Intelligence、Edge Application | 碩士 | 110 | 2024-01-29 | 2.49 年 |
| 111 | A Cryptographic Platform Implemented by OTP-based TCAM in 16 nm FinFET Technology 電子研究所・共同指導:郭治群 鰭式場效電晶體、一次性編程、三態可定址記憶體、加密系統、物聯網、Cryptographic Platform、FinFET、Internet of Things (IoT)、One Time Programming (OTP)、Ternary Content Addressable Memory (TCAM) | 碩士 | 108 | — | 無法計算 |
| 111 | Identity-authentication of AIoT Devices through OTP-based Physical Unclonable Function Implemented on 40nm CMOS Platform 電子研究所・共同指導:郭治群 人工智慧物聯網、守門員平台、物理不可複製函數、一次性編程記憶體、鰭式電晶體、反熔絲崩潰、介電質熔絲崩潰、Artificial Intelligence of Things (AIoT)、Goalkeeper platform、Physically-unclonable Function (PUF)、One-time Programmable (OTP) memory、Anti-fuse breakdown、Dielectric fuse breakdown | 碩士 | 108 | — | 無法計算 |
| 111 | An Energy Efficient Inference Processor of Neural Network Based on Resistive-gate FinFET 人工智慧技術與應用碩士學位學程・共同指導:侯拓宏 近記憶體運算、記憶體內運算、電阻式記憶體、電阻式閘極鰭式電晶體、神經網路、人工智慧、終端應用、Near Memory Computing、Computing in Memory (CIM)、Resistive Random-Access Memory (RRAM)、RG-FinFET、Neural Network、Artificial Intelligence、Edge Application | 碩士 | 109 | — | 無法計算 |
| 110 | The Chip Implementation of Universal-Security-Function (USF) on a 40 nm CMOS Technology 電子研究所・共同指導:郭治群 通用安全函數、物理不可複製函數、真隨機亂數產生器、單一電晶體單元、記憶體陣列、Universal Security Function、Physical Unclonable Function、True Random Number Generator、1T unit-cell、memory array | 碩士 | 108 | 2021-11-29 | 2.33 年 |
| 110 | The Implementation of Physical Unclonable Function (PUF) Based on FinFET Variation 電子研究所・共同指導:郭治群 鰭式場效電晶體、電性變異、隨機缺陷擾動、虛擬傳輸模型、物理不可複製函數、物聯網、FinFET、Process Induced Variations、Stress Induced Variations、Virtual Source Model、Physical Unclonable Function (PUF)、Internet of Things (IoT) | 碩士 | 108 | — | 無法計算 |
| 110 | The Implementation of Physical Unclonable Function (PUF) on a Resistive-Gate FinFET Memory Array 電子研究所・共同指導:郭治群 阻變式閘極鰭式電晶體、電阻式記憶體、異質整合、多組態、可靠度、物理不可複製函數、物聯網、RG-FinFET、Resistive Random-Access Memory (RRAM)、Heterogeneous Integration、Multilevel、Reliability、Physical Unclonable Function (PUF)、Internet of Things (IoT) | 碩士 | 108 | — | 無法計算 |
| 110 | Improved HfZrO2 Fe-FinFET Memory to Realizing Highly-Reliable Multi-bit Operation 電子研究所・共同指導:郭治群 內嵌式鐵電記憶體、HZO鐵電鰭式電晶體、界面層、提升極化量、可靠度、embedded ferroelectric memory、HZO Fe-FinFET、interfacial layer、polarization improvement、reliability | 碩士 | 108 | — | 無法計算 |
| 110 | The Design and Fabrication of One Time Programmable Memory with Junction Fuse Mechanism Implemented on 16nm FinFET Process 電子研究所・共同指導:郭治群 單次/多次編成記憶體、鰭式電晶體、接面熔斷崩潰、內嵌式記憶體、低編程電壓、one-time/multiple-time-programmable(OTP/MTP) memory、FinFET、junction fuse breakdown、embedded memory、low programming voltage | 碩士 | 108 | — | 無法計算 |
| 109 | The Multi-Level Operation of One-Transistor Resistive Random-Access Memory with Gate-Resistance Switching 電子研究所 電阻式記憶體、多階儲存單元操作、1T1R、RRAM、Multi-Level | 碩士 | 107 | 2020-09-03 | 2.09 年 |
| 109 | Gate Resistance Switching FinFET Array for True-Random-Number Generator Application 電子研究所 阻變式閘極鰭式場效電晶體、電阻式記憶體、非揮發性記憶體、亂數產生器、RG-FinFET、RRAM、NVM、TRNG | 碩士 | 107 | 2020-09-01 | 2.09 年 |
| 108 | A New Architecture of Physical-unclonable-function Chip and Its Implementations 電子研究所 反熔絲崩潰、物理不可複製函數、介電質熔絲崩潰、單次可編程記憶體、一次性密碼、機器學習、Anti-fuse Breakdown、Physically-unclonable Function、Dielectric Breakdown、One-time Programmable Memory、One-time Password、Machine Learning | 碩士 | 106 | 2020-06-04 | 2.84 年 |
| 108 | The Implementation of Neuromorphic Computing Network By Multiple Levels Resistance Random Access Memory 電子研究所 類神經網路、電阻式記憶體、深度學習、neuromorphic computing、RRAM、deep learning | 碩士 | 104 | 2020-01-13 | 4.45 年 |
| 108 | Resistance-Gate Switching Nonvolatile Memory for Neuromorphic Network Application 電子研究所 電阻式記憶體、類神經網路、非揮發性記憶體、RRAM、Neuromorphic Network、NVM | 碩士 | 106 | 2020-01-06 | 2.43 年 |
| 108 | Improved High Performance FinFET and Its Prediction Down to 3nm Technology Node 電子研究所 鰭式電晶體、寄生電容、半導體電腦輔助設計、技術節點預測、FinFET、parasitic capacitance、TCAD、prediction for technology nodes | 碩士 | 106 | 2019-10-25 | 2.23 年 |
| 108 | The Design and Fabrication of One Time Programmable Memory with Gate Floating Anti-Fuse Breakdown 電子研究所 閘極浮接、介電質反熔絲崩潰、單次編程記憶體、Gate Floating、Anti-Fuse Breakdown、One Time Programmable Memory | 碩士 | 106 | 2019-10-16 | 2.21 年 |
| 108 | The Design of Tunneling FET with Fin Structure for Low Voltage and Low Power Applications 電子研究所 低電壓、低功耗、鰭式穿隧電晶體、Low Voltage、Low Power Applications、FinTFET | 碩士 | 105 | — | 無法計算 |
| 107 | The Design and Fabrication of FinFET with Both Air Trench Isolation and Air Spacer 電子研究所 鰭式電晶體、寄生電阻、空氣側壁、FinFET、air spacer、parasitic resistance | 碩士 | 105 | 2019-09-01 | 3.08 年 |
| 107 | The Construction of Physical Unclonable Function (PUF) and True-Random-Number Generator (TRNG) Based on FinFET Variation 電子研究所 物理不可複製函數、真亂數產生器、鰭式場效電晶體、變異性、隨機電報雜訊、Physical Unclonable Function、rue-Random-Number Generatorrue-Random-Number Generator、FinFET、Variation、random telegraph noise | 碩士 | 105 | 2019-07-23 | 2.97 年 |
| 107 | Design of Low Voltage Vertical Channel-Tunnel FET (VC-TFET) Using Ge/SiGe Materials 電機資訊國際學程 新穎穿隧式場效電晶體、穿隧式場效電晶體、鍺/矽鍺材料、直立式通道、Novel Tunnel FET、TFET、Ge/SiGe、vertical Channel | 碩士 | 105 | 2019-05-09 | 2.77 年 |
| 107 | The Design and Optimization of the One Transistor Resistance Switching Nonvolatile Memory 電子研究所 非揮發性記憶體、電阻式記憶體、鰭式電晶體、1T1R記憶體陣列、Non-Volatile Memory、Resistance Random Access Memory、Fin Field-Effect Transistor、1T1R Memory Array | 碩士 | 104 | 2018-11-19 | 3.30 年 |
| 107 | The Design and Fabrication of Next Generation One Time Programmable Memory Based on the Dielectric Fuse Breakdown 電子研究所 介電質熔絲崩潰、單次編程記憶體、嵌入式記憶體、dielectric fuse breakdown、one-time-programmable memory、embedded memory | 碩士 | 105 | 2018-09-05 | 2.09 年 |
| 106 | A New Architecture of FinFET for High Performance and the Analysis on Its RF Characteristics 電子研究所 鰭式電晶體、射頻、電阻、FinFET、RF、resistance | 碩士 | 104 | 2018-01-10 | 2.44 年 |
| 106 | A New Temperature Measurement Technique of the Self-Heating Effect in 14nm FinFET and Its Impact on the Transport Mechanism 電子研究所 自熱效應、可靠度、傳輸理論、電晶體溫度、self-heating effect、transport、temperature | 碩士 | 104 | 2017-09-04 | 2.09 年 |
| 106 | A New FinFET-based Field Programmable Synapse Array (FPSA) for Artificial Neural Network Applications 電子研究所 鰭式電晶體、人工神經網路、機器學習、FinFET、Artificial Neural Network、Machine-learing | 碩士 | 104 | 2017-09-04 | 2.09 年 |
| 105 | A Novel ReWritable One-Time-Programming Memory Realized by Dielectric-fuse of RRAM for Embedded Applications 電子研究所 一次編程唯讀記憶體、電阻式記憶體、介電層熔斷崩潰、OTP、RRAM、Dielectric breakdown | 碩士 | 103 | 2016-09-04 | 2.09 年 |
| 104 | Various Aspects of the Process and Stress Induced Variabilities in Tri-gate Transistors 電子工程學系 電子研究所 三維金氧半互補式電晶體、製程所致之電特性變異、長時間操作所致之電特性變異、雜質隨機分佈擾動、隨機缺陷擾動、隨機電報雜訊、表面粗糙擾動、邊線不平整擾動、功函數擾動、驅動電流擾動、電路和系統擾動、3D CMOS Devices、Process-induced Variabilities、Long-term-stress-induced Variabilities、Random-dopant-fluctuation(RDF)、Random-trap-fluctuation(RTF)、Random-telegraph-noise(RTN)、Surface- roughness-variation (SRV)、Line-edge-roughness(LER)、Work-function-fluctuation、Drain-current-variation、Circuit-and-system-level variation | 博士 | 103 | 2016-06-23 | 1.89 年 |
| 104 | New Understandings on the Correlation Between Work-function Fluctuation and Vth Variation in HKMG CMOS Devices 電子工程學系 電子研究所・共同指導:汪大暉 高介電氧化層、介面偶極、功函數變異、氧化層缺陷、偏壓溫度不穩定性、互補式電晶體、high-k dielectric、interfacial dipole、work function variation、oxide trap、bias temperature instability、CMOS | 碩士 | 102 | 2015-09-09 | 2.11 年 |
| 104 | The Design and Optimization of a Low Power Bi-layer Resistance RAM 電子工程學系 電子研究所・共同指導:汪大暉 電阻式記憶體、低功耗、雙介電層、三氧化二鋁、二氧化鉿、RRAM、low power、bi-layer、Al2O3、HO2 | 碩士 | 102 | 2015-09-09 | 2.11 年 |
| 104 | A One-Time-Programmable Array Based on a New Dielectric Fuse Breakdown Mechanism 電子工程學系 電子研究所 單次寫入唯讀記憶體、互補式電晶體、熔斷、介電層崩潰、隨機電報雜訊、可靠度、OTP、CMOS、fuse、dielectric breakdown、RTN、Reliability | 碩士 | 102 | 2015-09-08 | 2.10 年 |
| 103 | Design of the Complementary Face-Tunneling FET for Ultra-low Power Applications 電子工程學系 電子研究所 穿隧電晶體、面穿隧、閘極-源極 電容、反向器、靜態隨機儲存記憶體、低功耗、TFET、Face Tunneling、Gate to Drain Capacitance、inverter、SRAM、Low Power | 碩士 | 102 | 2015-08-12 | 2.03 年 |
| 103 | The Impact of the Shallow Trench Isolation on the Reliability of Trigate MOSFET 電子工程學系 電子研究所 淺溝渠隔離氧化層、三閘極電晶體、可靠度、負偏壓溫度不穩定度、shallow trench isolation、Trigate、reliability、NBTI | 碩士 | 98 | 2015-07-30 | 5.99 年 |
| 103 | A New Methodology on the Investigation of Dielectric Breakdown in High-K Metal-Gate CMOS Devices 電子工程學系 電子研究所 高介電材料、二氧化鉿、氧化層崩潰、隨機電報機雜訊、high K metal gate、CMOS、TDDB、RTN | 碩士 | 101 | 2014-09-03 | 2.09 年 |
| 103 | A Circuit Level Variability Model of Basic Logic Circuits in Trigate CMOS Devices 電子工程學系 電子研究所 變異性、三維電晶體、variation、trigate、transport theory | 碩士 | 101 | 2014-09-03 | 2.09 年 |
| 103 | The Design and Fabrication of Low Power Bi-layer RRAM and the Study of Its Conduction Mechanism 電子工程學系 電子研究所 電阻式記憶體、低功耗、氮氧化鉿、RRAM、low power、HfON | 碩士 | 101 | 2014-09-03 | 2.09 年 |
| 102 | Experimental Determination of the Ballistic Transport Characteristics of Nanoscale Trigate MOSFETs 電子工程學系 電子研究所 三維電晶體、鰭式電晶體、三柵極電晶體、彈道傳輸、實驗方法、Trigate、finFET、ballsitic transport、experimental | 碩士 | 100 | 2013-09-02 | 2.09 年 |
| 102 | The Impact of the Gate Current Variation on the Trigate MOSFETs 電子工程學系 電子研究所 閘極漏電的變異、金氧半電晶體、gate current variation、MOSFET | 碩士 | 100 | 2013-08-30 | 2.08 年 |
| 102 | The Investigation of Endurance and Data Retention for U-Shaped MTP SONOS Flash Memory 電子工程學系 電子研究所 快閃式記憶體、耐久性、資料保存、Flash Memory、SONOS、Endurance、Retention | 碩士 | 100 | 2013-08-30 | 2.08 年 |
| 102 | The Study of Device Characteristics and the Random Telegraph Noise Analysis in HfO2-based Resistive Random Access Memory 電子工程學系 電子研究所 電阻式記憶體、隨機電報雜訊、操作、氧離子、RRAM、RTN、Operation、Oxygen atom | 碩士 | 100 | 2013-08-30 | 2.08 年 |
| 102 | The Investigation of Oxide Traps in Advanced HfO2 Gate Dielectric nMOSFETs 電子工程學系 電子研究所 二氧化鉿、高介電層、氧化層缺陷、Oxide Traps、HfO2、nMOSFETs | 碩士 | 100 | 2013-08-30 | 2.08 年 |
| 101 | The Multi-trap Analysis of Trigate MOSFETs Using the Random Telegraph Noise Measurement 電子工程學系 電子研究所 隨機電報訊號、三閘極電晶體、靜態隨機記憶體、互補式金氧半電晶體、RTN、TRIGATE、SRAM、CMOS | 碩士 | 99 | 2012-11-23 | 2.31 年 |
| 101 | Investigation of the Mechanism and Reliability of a U-Shaped MTP SONOS Flash Memory Cell by a CMOS Logic Process 電子工程學系 電子研究所 記憶體、SONOS | 碩士 | 99 | 2012-11-23 | 2.31 年 |
| 101 | The Random Telegraph Noise (RTN) Analysis of Multi-Level Operation Methods in HfO2-based ResistiveRandom Access Memory 電子工程學系 電子研究所 隨機電報雜訊、電阻式記憶體、多位元、RTN、RRAM、Multi-Level | 碩士 | 99 | 2012-09-06 | 2.10 年 |
| 101 | The Random Trap Induced Fluctuations of Bulk Tri-gate Devices by a New Trap Profiling Technique 電子工程學系 電子研究所 三面閘極金氧半電晶體、氧化層隨機陷阱、電性擾動效應、Tri-gate MOSFET、Random Trap Fluctuation | 碩士 | 99 | 2012-09-04 | 2.09 年 |