碩士平均畢業時長
2.22 年
中位數 2.05 年・8 人
博士平均畢業時長
5.19 年
中位數 5.19 年・6 人
收錄論文
14 篇
101–111 學年度
全校中位數(供對照)
碩士 2.10・博士 6.11 年
畢業時長趨勢
每學年度畢業人數
只計入有論文收錄的畢業生;中途休學或更換指導教授的學生不會出現在這裡。
研究關鍵字
負電容Negative capacitance負電容電晶體鐵電FerroelectricHfZrONegative Capacitance Effect鐵電材料Ferroelectric material氧化鋁Al2O3氧化鋯鉿負電容效應Negative capacitance FET氧化鉿鋯次臨界擺幅Subthreshold Swing二氧化鈦TiO2氧化鉿基鐵電記憶體覆蓋層類神經網路系統HfO2-basedFeRAMCapping layerNeuromorphic鐵電電容鐵電電晶體定電壓應力時間依賴性介電崩潰Ferroelectric CapacitorFerroelectric TransistorConstant Voltage StressTime Dependent Dielectric Breakdown介面鈍化氮電漿處理interface passivationremote nitrogen plasma氧化鉿HfO2遠程氮電漿Remoto nitrogen plasma超薄氧化鋁鉿漏電流多域輻射摻雜金屬閘極應力
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指導論文
| 學年度 | 論文 | 學制 | 入學 | 提交日期 | 畢業時長 |
|---|---|---|---|---|---|
| 111 | Investigation of Hafnium Oxide-Based Ferroelectric Memory with Capping Layer Effect for Neuromorphic Applications 電子物理系所・共同指導:周武清 氧化鉿基、鐵電記憶體、氧化鋁、覆蓋層、類神經網路系統、HfO2-based、FeRAM、Al2O3、Capping layer、Neuromorphic | 博士 | 106 | 2023-07-02 | 5.92 年 |
| 109 | Electrical Reliability Investigation of Stacked HfZrO Ferroelectric Memory and Field Effect Transistor 鐵電電容、鐵電電晶體、氧化鋯鉿、負電容效應、定電壓應力、時間依賴性介電崩潰、Ferroelectric Capacitor、Ferroelectric Transistor、HfZrO、Negative Capacitance Effect、Constant Voltage Stress、Time Dependent Dielectric Breakdown | 碩士 | 107 | 2021-02-17 | 2.55 年 |
| 108 | Interface Engineering for Dopant-Free HfO2 Negative Capacitance Transistor Using Remote Nitrogen Plasma Passivation 電子研究所・共同指導:簡昭欣 負電容、介面鈍化、氮電漿處理、Negative capacitance、interface passivation、remote nitrogen plasma | 碩士 | 106 | 2020-07-15 | 2.95 年 |
| 108 | Investigation of Dopant-Free HfO2 Ferroelectric Negative Capacitance Transistor with Remote Nitrogen Plasma Treatment 電子物理系所・共同指導:周武清 氧化鉿、負電容效應、HfO2、negative capacitance effect | 碩士 | 106 | 2019-08-26 | 2.07 年 |
| 108 | Investigation of P-Type Negative Capacitance Transistor Using Ferroelectric HfAlOx with Remote Nitrogen Plasma Passivation 電子研究所・共同指導:簡昭欣 負電容電晶體、鐵電材料、遠程氮電漿、Negative capacitance FET、Ferroelectric material、Remoto nitrogen plasma | 碩士 | 106 | 2019-08-25 | 2.06 年 |
| 108 | Impact of Ferroelectric HfZrOx Gate-Stack Scaling on N-type and P-type Negative Capacitance Transistors 負電容電晶體、氧化鉿鋯、鐵電材料、negative capacitance、HfZrO、ferroelectric material | 碩士 | 106 | 2019-08-17 | 2.04 年 |
| 108 | Ferroelectric Negative Capacitance Transistor Using Ultrathin Hafnium Aluminum Oxide for Advanced Low-Power CMOS Application 鐵電、負電容電晶體、超薄、氧化鋁鉿、漏電流、次臨界擺幅、多域、輻射、摻雜、金屬閘極應力、Ferroelectric、Negative Capacitance Transistor、Ultrathin、Hafnium Aluminum Oxide、Leakage、Subthreshold Swing、Multi-domain、Radiation、Dopant、Metal Gate Stress | 博士 | 104 | 2019-01-04 | 3.43 年 |
| 107 | Advanced Negative Capacitance Transistor for the Applications of Low-Power IoT and Sub-5nm CMOS node 鐵電、負電容場效電晶體、次臨界擺幅、氧化鉿鋁、無摻雜鐵電薄膜、應力誘發相轉變、缺陷鈍化、Ferroelectric、Negative-Capacitance FETs、Subthreshold swing、HfAlO、Dopant-free ferroelectric film、Stress-induced phase transition、Defect passivation | 博士 | 103 | 2019-02-09 | 4.53 年 |
| 107 | Investigation of Sub-60mV/dec-Swing Negative Capacitance Field Effect Transistor with Ferroelectric Zirconium-Doped Hafnium Oxide 電子研究所・共同指導:簡昭欣 負電容、氧化鉿鋯、鐵電、電晶體、negative capacitance、HfZrO2、ferroelectric、transistor | 博士 | 99 | 2019-02-09 | 8.53 年 |
| 107 | Investigation on Ferroelectric Mechanism of Dopant-Free Hafnium Oxide Induced by Mechanical Stress 電子研究所・共同指導:張俊彥 無摻雜氧化鉿薄膜、氧化鉿鐵電材料、負電容、Dopant-free HfO2、Hafnium Oxide Ferroelectric Material、Negative Capacitance Effect | 碩士 | 105 | 2018-08-19 | 2.05 年 |
| 107 | Investigation of Steep-Slope Negative Capacitance Transistors Using Ferroelectric Hafnium Aluminum Oxides 電子研究所・共同指導:張俊彥 負電容電晶體、鐵電材料、熱穩定性、Negative capacitance FET、Ferroelectric material、Thermal stability | 碩士 | 105 | 2018-08-19 | 2.05 年 |
| 105 | Strained-Gate with Negative Capacitance Ferroelectric Dielectric Layer for Energy Efficient Memories and Sub-10nm Transistors 電子研究所・共同指導:張俊彥 鐵電、負電容、氧化鋯鉿、非揮發性、記憶體、ferroelectric、negative capacitance、HfZrO、nonvolatile、memory | 博士 | 103 | 2017-06-13 | 2.87 年 |
| 102 | The Investigation of GeO Capping layer on TiO2 Based and PZT Based Resistive Random-Access Memory 電子工程學系 電子研究所・共同指導:荊鳳德 電阻式隨機存取記憶體、二氧化鈦、鋯鈦酸鉛、RRAM、TiO2、PZT | 博士 | 97 | 2014-06-04 | 5.84 年 |
| 101 | Switching Characteristics of Low-Power Al2O3/TiO2 Resistive Memory Devices 電子工程學系 電子研究所・共同指導:荊鳳德 電阻式記憶體元件、氧化鋁、二氧化鈦、低功率、resistive random access memory、Al2O3、TiO2、Low-Power | 碩士 | 100 | 2013-07-26 | 1.98 年 |